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行管击穿维修的检修方法

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发表于 2009-4-16 23:16:20 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
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1、  电流监测法

检测点:在+45V或+51V或+190V开关变压器二次供电输出电容处,二次供电调整管滤波电容处,行包初级线圈后。

2、  电压测量法

显示器的行激励供电因为显示器设计不同,有取自+12V,+45V,+80V等几种,显示器的行管有使用双极型的,也有使用场效应管的。

如果不好找对应型号,可以考虑直接使用 IRF630,在代换行激励管后,最好使用示波器测量一下波形,同时长时间监测一下行管的温升。

3、  波形检测对比法

行场 IC 的 HOUT 端,行激励管的 C 极,行激励变压器的 34 脚,行管的 B极,行管的 C 极(要注意测量方法)。这些关键点的波形一般是固定的,如果某点VPP 值变低或变高,都会造成行管激励不足或过激励而烧毁行管。如果某点的波形畸变,也会造成行管过流,长时间使用过热烧毁。通过波形检测,可以迅速定位故障点,找出故障原因。

4、  温度测量法

主要用于更换行管后,对行管的温度进行长时间监控,一般行管连续使用两70 度以下,基本都可以使用。注意测个小时以上,行管的温度不上升,保持在量时,要盖上后盖,不开盖的状态测量与盖盖测量温度会有不小的差异,要测量时要注意与实际使用环境温度相当。

5、  元件替换排除法

对于判断行逆程电容容量减小的故障,可以采用电容并联法。

对于行管发热量大的问题,可以选用几个不同的行管(三代,四代,五代)的行管进行替换,分别测试行电流大小和发热量,温升最小的选用。
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发表于 2009-12-11 23:33:55 | 只看该作者
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3#
发表于 2010-3-9 21:41:19 | 只看该作者
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