弱电论坛

标题: 内存条的封装形式 [打印本页]

作者: 家电维修    时间: 2012-5-13 20:13
标题: 内存条的封装形式
最佳答案:从DIP封装到BGA封装  芯片的封装技术已经历经好几代的变迁,技术指标一代比一代先进,包括芯片面积与封装面积之比越来越接近,适用频率越来越高,耐温性能越来越好,以及引脚数增多,引脚间距减小,重量减小,可靠性提高,使用更加方便等等,都是看得见的变化。20世纪70年代时,芯片封装流行的还是双列直插封装,简称DIP(Dual ln-line Package)。DIP封装在当时具有适合PCB(印刷电路板)的穿孔安装。比TO型封装易于对PCB布线以及操作较为方便等一些特点。
采用TSOP封装技术的芯片
到了80年代出现的内存第二代封装技术以TSOP为代表,它很快为业界所普遍采用,到目前为止还保持着内存封装的主流地位。TSOP是英文Thin Small Outline Package的缩写,意即薄型小尺寸封装。TSOP内存封装技术的一个典型特征就是在封装芯片的周围做出引脚,如SDRAM内存的集成电路两侧都有引脚,SGRAM内存的集成电路四面都有引脚。TSOP适合用SMT技术(表面安装技术)在PCB(印刷电路板)上安装布线。TSOP封装时,寄生参数(电流大幅度变化时,引起输出电压扰动) 减小,适合高频应用,操作比较方便,可靠性也比较高。
20世纪90年代随着集成技术的进步、设备的改进和深亚微米技术的使用,LSI、VLSI、ULSI相继出现,芯片集成度不断提高,I / O引脚数急剧增加,功耗也随之增大,对集成电路封装的要求也更加严格。为满足发展的需要,在原有封装方式的基础上,又增添了新的方式——球栅阵列封装,简称BGA(Ball Grid Array Package)。BGA 封装技术有这样一些特点:I / O引脚数虽然增多,但引脚间距并不小,从而提高了组装成品率。虽然它的功耗增加,但BGA能用可控塌陷芯片法焊接,从而可以改善它的电热性能。厚度和重量都较以前的封装技术有所减少。寄生参数减小,信号传输延迟小,使用频率大大提高。组装可用共面焊接,可靠性高。采用BGA新技术封装的内存,可以使所有计算机中的DRAM内存在体积不变的情况下内存容量提高两到三倍,BGA与TSOP相比,具有更小的体积、更好的散热性能和电性能。BGA封装技术使每平方英寸的存储量有了很大提升,采用BGA封装技术的内存产品在相同容量下,体积只有TSOP封装的三分之一。另外,与传统TSOP封装方式相比,BGA封装方式有更加快速和有效的散热途径。不过BGA封装仍然存在着占用基板面积较大的问题。

CSP新一代的内存封装技术
在BGA技术开始推广的同时,另外一种从BGA发展来的CSP封装技术正在逐渐展现它生力军本色。
CSP,全称为Chip Scale Package,即芯片级封装的意思。作为新一代的芯片封装技术,在BGA、TSOP的基础上,CSP的性能又有了很大的提升。
CSP封装可以让芯片面积与封装面积之比超过1:1.14,已经相当接近1:1的理想情况,绝对尺寸也仅有32平方毫米,约为普通的BGA的1/3,仅仅相当于TSOP内存芯片面积的1/6。这样在相同体积下,内存条可以装入更多的芯片,从而增大单条容量。也就是说,与BGA封装相比,同等空间下CSP封装可以将存储容量提高三倍。CSP封装内存不但体积小,同时也更薄,其金属基板到散热体的最有效散热路径仅有0.2mm,大大提高了内存芯片在长时间运行时的可靠性,线路阻抗显著减小,芯片速度也随之得到大幅度的提高。
不少国际DRAM大厂商都表示,虽然目前DDR266或DDR200很多还采用TSOP封装技术,但自DDR333开始,如再使用传统SDRAM的TSOP封装的话,在量产良品率上势必会出现极大问题,因此如需将规格向上提高到DDR333,则需将封装方式改用为CSP封装才有机会。据了解,目前DRAM颗粒厂如采用0.175微米工艺来制造DDR333颗粒,良品率上最多仅能达到20%(原因在于0.175微米工艺是用来制造DDR266),但如将工艺提升至0.15微米甚至0.13微米,用来制造DDR333颗粒,其良品率将可高达70%~80%。对于DRAM颗粒厂商而言,在制造一颗DDR266与DDR333时所耗费成本几乎是相差不大,因此使用CSP封装的高性能内存是大势所趋。
CSP的SDRAM模块,应用了倒装焊技术,与相同的模块空间TSOP封装比,它可以很容易地将内存容量增加为四倍以上。CSP的电气性能和可靠性也相比BGA、TOSP有相当的提高。在相同的芯片面积下CSP所能达到的引脚数明显地要比TSOP、BGA引脚数多得多(TSOP最多304根,BGA以600根为限,CSP原则上制造1000根都不难),这样它可支持I/O端口的数就增加了很多。

此外, CSP封装内存芯片的中心引脚形式有效地缩短了信号的传导距离,其衰减随之减少,芯片的抗干扰、抗噪性能也能得到大幅提升,这也使得CSP的存取时间比BGA改善15%-20%。在CSP的封装方式中,内存颗粒是通过一个个锡球焊接在PCB板上,由于焊点和PCB板的接触面积较大,所以内存芯片在运行中所产生的热量可以很容易地传导到PCB板上并散发出去。而传统的TSOP封装方式中,内存芯片是通过芯片引脚焊在PCB板上的,焊点和PCB板的接触面积较小,使得芯片向PCB板传热就相对困难。CSP封装可以从背面散热,且热效率良好,CSP的热阻为35℃/W,而TSOP热阻40℃/W。测试结果显示,运用Micro-CSP封装的内存可使传导到PCB板上的热量高达88.4%,而TSOP内存中传导到PCB板上的热量为71.3%。另外由于CSP芯片结构紧凑,电路冗余度低,因此它也省去了很多不必要的电功率消耗,致使芯片耗电量和工作温度相对降低。




欢迎光临 弱电论坛 (http://bbs.rdzjw.com/) Powered by Discuz! X3.2